アプリケーション

測定と検査

顕微鏡やカメラへの対応

半導体と回路基板の生産分野全般では、光学・電気・X線技術を使った総合的な測定・検査プロセスにより、個々の操作品質はトップレベルに保たれています。

INAでは、ナノレベルの精度が求められる精密機器へのソリューションとして、例えば、小型ながら超高精度を備えた、針状ころ軸受を提供しております。

 

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